Demo Park Systems

Venez découvrir la toute dernière génération de microscopie à force atomique (AFM) et inscrivez-vous pour une session interactive sur l’AFM grand échantillon de Park Systems NX20. Découvrez les dernières mises à jour de la nano caractérisation des matériaux avec une large gamme de modes de mesure nano mécaniques, magnétiques et électriques, tels que : « Scanning Spreading Resistance Microscopy » (SSRM), « Conductive AFM »(C-AFM) et la « Scanning capacitance Microscopy » (SCM).

Inscrivez-vous ici : www.parksystems.com/JSI2020

En plus de cela, Park Systems présentera les avantages du vide pour les mesures électriques AFM lors de la session poster. Rejoignez notre spécialiste des applications, Matthew Lefevre, pour des discussions sur notre poster « Better in Vacuum ».

Park Systems est heureux de parrainer le prix du meilleur poster lors des JSI.